感應場可以直接或間接對地造成危害。因為任何帶電體周圍都存在靜電場。如果ESDS器件進入靜電場范圍，就會因為感應而帶電。如果器件在電場區域內接地，電荷轉移到地的過程稱為CDM事件。

        2)軟損傷：又稱“潛在性緩慢失效”、“多次損傷累積后失效”，約占90%。受到軟損傷的器件，雖然當時各類電參數仍合格，然而其使用壽命卻大大縮短了。含有這些器件的產品或系統，可靠性變差，可能會在后續過程中（直至最終用戶）繼續遭受ESD軟損傷或其它過應力損傷積累而過早地失效。

       由于軟損傷是潛在的，運用目前的技術還很難證明或檢測出來，特別是器件被裝入整機產品之后，因此具有更大的危害性。這些產品流入市場后的維護成本和造成的其它損失，將比在生產中發生的直接損失要放大幾十甚至上百倍！多數未采取保護措施的元器件靜電放電敏感度都是很低，很多在幾百伏的范圍，如MOS單管在100-200V之間，而且這些單管是不能增加保護電路的；一些電路尤其是CMOS IC采取了靜電保護設計，雖然明顯的提高抗ESD水平，但大多數也只能達到2000－4000V，而在實際環境中產生的靜電電壓則可能達到上萬伏。
         因此，沒有防護的元器件很容易受到靜電損傷。隨著元器件尺寸的越來減小，這種損傷就會越來越多。所以，絕大多數元器件是靜電敏感器件，需要在制造、運輸和使用過程中采取防靜電保護措施。列出一些沒有靜電保護設計器件的靜電放電敏感度。

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